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微区扫描XRD
发布日期 :2022-01-11 浏览次数: 1100

日本理学微区扫描 XRD

 

主要应用

仪器采用当前最先进的技术,测角仪测角准确度与精确度达到当前世界先进水平,光源 与探测器能长时间稳定工作,保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。既可以进行粉末 物相分析、晶粒大小判断、结晶度分析、物相含量分析,又能够精确测量和分析各种薄膜样品。

 

性能指标

· X 射线光源: 9KW 铜靶光源, 焦斑尺寸:≤0.4 * 8mm

· 2θ 扫描范围:≥0°~160°;可读最小步长:≤0.0001 发散狭缝 0.01~7mm;接收狭 缝 0.01~20mm

 

· 探测器:

1. 新型超高速二维硅像素探测器 (有效面积:≥2900mm 2),直接检测像阵列探测器

2. 新型超高速一维阵列探测器(有效面积:≥350 mm 2)

 

· 可进行样品微区 Mapping 测试;

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