日本理学微区扫描 XRD

主要应用

仪器采用当前最先进的技术，测角仪测角准确度与精确度达到当前世界先进水平，光源 与探测器能长时间稳定工作，保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。既可以进行粉末 物相分析、晶粒大小判断、结晶度分析、物相含量分析，又能够精确测量和分析各种薄膜样品。

性能指标

· X 射线光源: 9KW 铜靶光源， 焦斑尺寸：≤0.4 * 8mm

· 2θ 扫描范围：≥0°～160°；可读最小步长：≤0.0001 发散狭缝 0.01～7mm；接收狭 缝 0.01～20mm

· 探测器：

1. 新型超高速二维硅像素探测器 （有效面积：≥2900mm 2），直接检测像阵列探测器

2. 新型超高速一维阵列探测器（有效面积：≥350 mm 2）

· 可进行样品微区 Mapping 测试；